- 符合GB31467電池包測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)
- 符合GB31241標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備
-
可靠性試驗(yàn)設(shè)備
- 高空低壓試驗(yàn)箱
- 過充防爆箱
- 電池燃燒試驗(yàn)機(jī)
- 電池短路試驗(yàn)儀
- 電池沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 鋰電池針刺試驗(yàn)機(jī)
- 電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)
- 電池三綜合試驗(yàn)機(jī)
- 精密烘箱
- 高低溫試驗(yàn)箱
- 氙燈老化試驗(yàn)箱
- 砂塵試驗(yàn)箱
- 紫外線老化試驗(yàn)機(jī)
- 三槽式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 快速升降溫試驗(yàn)箱
- 大型恒溫恒濕試驗(yàn)室
- 恒溫恒濕箱
- 恒定濕熱試驗(yàn)箱
- 高溫老化烘箱
- 耐變黃試驗(yàn)箱
- 淋雨試驗(yàn)箱
- 真空干燥箱
- 電芯強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)機(jī)
- 雙翼跌落試驗(yàn)機(jī)
- 模擬環(huán)境檢測(cè)設(shè)備
-
電池**檢測(cè)設(shè)備
- 內(nèi)部短路電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)
- 電池沖擊擠壓針刺試驗(yàn)機(jī)
- 電池?cái)D壓針刺試驗(yàn)機(jī)
- 電池?cái)D壓試驗(yàn)機(jī)
- 電池針刺試驗(yàn)機(jī)
- 溫度循環(huán)試驗(yàn)箱
- 電池冷熱沖擊試驗(yàn)箱
- 電池沖擊試驗(yàn)機(jī)
- 電池過充過放防爆箱
- 模擬高空低壓試驗(yàn)箱
- 電池短路試驗(yàn)儀
- 電池洗滌試驗(yàn)機(jī)
- 溫度型電池短路測(cè)試儀
- 電池電芯強(qiáng)制內(nèi)部短路試驗(yàn)機(jī)
- 電池燃燒試驗(yàn)機(jī)
- 小電池跌落試驗(yàn)機(jī)
- 動(dòng)力電池檢測(cè)設(shè)備
- 節(jié)能新型試驗(yàn)設(shè)備
- 電池檢測(cè)設(shè)備
- 電池**整體實(shí)驗(yàn)室
- 廣東恒定濕熱試驗(yàn)箱
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- 高低溫試驗(yàn)箱廠家
- 紙品紙箱檢測(cè)設(shè)備
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- 手機(jī)類試驗(yàn)設(shè)備
- 其他類檢測(cè)設(shè)備
新聞詳情
環(huán)境試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)
日期：2025-12-05 09:19
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摘要：
環(huán)境試驗(yàn)箱符合標(biāo)準(zhǔn)
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
GJB367.2-1987《**通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn)
GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)
GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-95《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-89 （IEC68-2-1）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-89 （IEC68-2-2）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-93（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-93（IEC68-2-30）
GJB150.3（ML-STD0-810D）高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4（MIL-STD-810D）低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《**設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
GJB4.6-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)交變濕熱試驗(yàn)》
GJB367.2-1987《**通信設(shè)備通用技術(shù)條件環(huán)境試驗(yàn)方法》411 濕熱試驗(yàn)
GJB360.8-87（MIL-STD-202f）高溫壽命試驗(yàn)
GB/T5170.2-96《溫度試驗(yàn)設(shè)備》
GB/T5170.5-96《濕熱試驗(yàn)設(shè)備》
GB10592-93《高、低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
GB10586-93《濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件》
